高低溫可程式實驗設(shè)備

高低溫可程式實驗設(shè)備適用模擬各類材料，半成品，成品等進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、交變試驗等環(huán)境模擬可靠性試驗以及結(jié)合充放電柜使用可進(jìn)行實驗測試，可以把多個試驗條件編定成多個程序讓它們自主按人工設(shè)定的指令不停的循環(huán)試驗。

高低溫可程式實驗設(shè)備的規(guī)格參數(shù):

型號可選：LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）。

內(nèi)箱尺寸可選(mm)寬*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

溫度范圍可選:A：0℃～150℃；B：-20℃～150℃；C：-40℃～150℃；D：-70℃～150℃（可任意調(diào)節(jié)）。

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

解析精度： 0.01℃。       

控制精度：≤±0.5℃。

均勻度：≦2.0℃。

可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗B：高溫試驗方法；GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗A：低溫試驗方法；GB2423.22-2008(IEC68-2-14)試驗NB：溫度循環(huán)試驗方法 。