二箱式芯片冷熱沖擊測試箱

二箱式芯片冷熱沖擊測試箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環境。從而判斷產品的可靠性及穩定性能等參數是否合格。將提供給您預測和改進產品的質量和可靠性依據。用于檢測電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技、科技及通信器材等產品在反復冷熱變化下的抵抗能力。

二箱式芯片冷熱沖擊測試箱符合標準
GJB360.7- 87溫度沖擊試驗;
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗; .
SJ/T10187-91 Y73系列溫度變化試驗箱--- -箱式;
SJ/T10186-91 Y73系列溫度變化試驗箱--二箱式;
滿足標準IEC68-2-14試驗方法N溫度變化;
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;
GB/T 2423.22-2002溫度變化;

1、三箱設備區分為：高溫區、低溫區、測試區三部分，測試產品置于測試區，沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行 沖擊，測試產品為靜態式。相對于兩箱多了常溫功能。

2、釆用觸控式圖控操作介面，操作筒易。

3、沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。

4、高溫沖擊或低溫沖擊時，最大時間可達999H,最大循環周期可達9999次。

5、系統可作自動循環衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。

6、冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。